温馨提示：本站仅提供公开网络链接索引服务，不存储、不篡改任何第三方内容，所有内容版权归原作者所有
AI智能索引来源：http://www.tek.com/ja/datasheet/mipi-d-phy-transmitter-test-application
点击访问原文链接

6シリーズMSO用D-PHYトランスミッタ・テスト・ソリューション | テクトロニクス

进入原网站 导航首页
6シリーズMSO用D-PHYトランスミッタ・テスト・ソリューション | テクトロニクス トグル検索 Current Language × Japanese (Japan)

言語の選択：

English FRANÇAIS DEUTSCH Việt Nam 简体中文 日本語 韓国語 繁體中文 トグル・メニュー x To find technical documents by model, try our Product Support Center Show all results → 製品 オシロスコープとプローブ オシロスコープ 高速デジタイザ プローブ／アクセサリ ソフトウェア ベンチ・ソフトウェア データ解析 自動計測 アナライザ スペクトラム・アナライザ パラメータ・アナライザ 光変調アナライザ 周波数カウンタ 信号発生器 任意波形／ファンクション・ジェネレータ 任意波形ジェネレータ ソースおよび電源 ソース・メジャー・ユニット 直流（DC）電源 DC電子負荷 DC双方向電源 電気化学製品 メータ デジタル・マルチメータ データ収集／スイッチング 微小信号／高感度測定 その他の製品 リファレンス・ソリューション 半導体テスト・システム 部品およびアクセサリ プレミアム再生品（Tektronix Encore） Product Selectors & Calculators ⇨ Keithley製品 EA Elektro-Automatik製品 すべての製品を見る キャンペーン ソリューション 産業機器 先端研究 航空宇宙／防衛 自動車 教育／実習 医療機器およびシステム パワー半導体 再生可能エネルギー 半導体の設計／製造 アプリケーション 3Dセンシング／画像特性評価 EMI/EMCテスト 高速シリアル通信 材料科学／エンジニアリング 防衛／政府機関 電力効率 RFテスト 自動テスト 有線通信 All Solutions サービス 校正サービス 工場認定校正 マルチベンダに対応した校正 品質管理／認定 他社製品の校正 地域 工場認定校正 工場校正状況の追跡 マルチブランドに対応したサービス・リクエスト ⇨ 工場サービス・リクエスト ⇨ 資産管理サービス 資産管理ソフト(Calweb) 資産管理サービス 修理サービス OEM機器校正の簡易見積り 修理状況の追跡 部品 保証ステータスの確認 EA Electro Automatikサービス テクトロニクスのコンポーネント・ソリューション 工場修理プラン 全てのサービス サポート 製品 データシートとマニュアル ご注文の状況 製品登録 保証状況 部品 ソフトウェア ソフトウェアのダウンロード TekAMS (ソフトウェア ライセンス管理) リソース EA Electro Automatikサポート FAQ サポートセンター テクニカル・サポート 購入方法と購入場所 お問い合わせ 販売店検索 GSA プログラム プロモーション コンプライアンス 輸出管理 誠実性とコンプライアンス 製品リサイクル（ヨーロッパのみ） 製品セキュリティ 品質保証 安全リコール トレーサビリティ 会社 私たちについて ブログ ストーリー イベント ニュースルーム パートナーポータル TekTalk ユーザーコミュニティ 見積もりを依頼 製品の見積もりを取得サービスの見積もりを取得営業に連絡 お問い合せ トグル検索 x To find technical documents by model, try our Product Support Center Show all results → ログイン Current Language × Japanese (Japan)

言語の選択：

English FRANÇAIS DEUTSCH Việt Nam 简体中文 日本語 韓国語 繁體中文 お問い合わせ

修理・校正サービスのお問い合わせ
テクニカル・サポート
製品選択のご相談
販売パートナー様のお問い合わせ

製品購入に関するご質問　ライブ・チャット：午前9時～午後4時まで

お問い合わせ ご意見、ご質問、フィードバック等がございましたら、お気軽にお問い合わせください。 ダウンロード

マニュアル、データシート、ソフトウェアなどのダウンロード：

ダウンロード・タイプ すべて表示 Products Datasheet Manual Software Marketing Document Faq Video 型名またはキーワード フィードバック

ご意見・ご希望など、何でもお気軽にお寄せください。

お客様からのフィードバックは当社製品／サービスの継続的な改善に役立ちます。皆様の声をぜひお聞かせください。

ご意見をお聞かせください

製品カタログ テクトロニクス ソフトウェア 6シリーズMSO用D-PHYトランスミッタ・テスト・ソリューション 6シリーズMSO用D-PHYトランスミッタ・テスト・ソリューション Opt. 6-CMDPHYデータ・シート Please Login/Register to interact with the search results. Login × データ・シートをダウンロードする 構成／見積り DPO714AX 詳細情報 オシロスコープ用解析ソフトウェア 製品サポート DPO70000SX ATIパフォーマンス・オシロスコープ MSO/DPO70000DXシリーズ・ミックスド・シグナル／デジタル・フォスファ・オシロスコープ 6シリーズ B MSO 7シリーズDPO デジタル・フォスファ・オシロスコープ その他の ソフトウェア 情報を見る

オンラインで読む：

Opt. 6-CMDPHYデータ・シート 概要 仕様 ご注文の際は以下の型名をご使用ください。


当社のTekExpress® Opt. 6-CMDPHY（D-PHYTX）は、MIPI D-PHY v1.2仕様で規定されているトランスミッタの適合性テスト／特性評価のための優れた物理層テスト・ソリューションです。当社の6シリーズMSOオシロスコープでD-PHYTX自動テスト・ソリューションを使用することで、D-PHYデータ・リンクの電気／タイミング測定、テスト、デバッグ、特性評価が簡単に行えます。

主な特長テスト時間完全自動化ソリューション：ワンクリック操作のD-PHYトランスミッタ・テスト：ハイスピード（HS）、ローパワー（LP）、ローパワー／ハイスピード（LP-HS）、ウルトラ・ローパワー・ステート（ULPS）シーケンス個々のテスト、またはグループ化されたテストの選択が可能 D-PHY v1.2、CTS v1.2に準拠したテストに完全対応D-PHY仕様v1.2までに対応した、バス・ターン・アラウンド（BTA）、ウルトラ・ローパワー・ステート（ULPS）測定を含む、完全自動化テストを実行 多様な測定D-PHYTXは、連続モード、バースト・モード、終端の変動、アイドル時間のバラツキなど多数くのシナリオを処理 トランスミッタ適合性テスト、その他（デバッグ）TekExpressでテスト・パラメータのリミット値を簡単に変更できるため、デバッグ、マージン・テスト、特性評価が容易 連続モードでTekExpressアプリケーションを実行し、データを収集して特性評価を実行 信号接続 低負荷、シングルエンド／差動信号に対応した当社TDP7700シリーズ・ハイ・インピーダンスTriModeプローブを使用したMIPI信号の測定 TekFlex™プローブ・アクセサリによる柔軟な信号接続

オフライン／リモート解析 ライブまたは事前に取込んだ波形を解析 テストのリモート実行が可能 アプリケーション 車載カメラとディスプレイ 携帯カメラとディスプレイ D-PHYインタフェースの設計 DSI-1/CSI-2の検証 システムの検証と統合 製造テスト ワンクリック操作による完全自動化D-PHYテストTekExpress D-PHYTX自動テスト・ソフトウェアは、Opt. 6-WIN（Windows 10オペレーティング・システム）がインストールされた6シリーズMSO上で動作します。オシロスコープとテスト・ソフトウェアは統合されており、D-PHY適合性試験仕様Revision 1.2までのスペックに基づいて、D-PHYトランスミッタ・インタフェース／デバイスを自動的に、かつ、シンプル、効率的にテストできます。

D-PHYTXソフトウェアを使用すれば、測定セットアップやテストの実行も簡単です。直感的なグラフィカル・ユーザ・インタフェース（GUI）により、セットアップに始まり、テスト全体のワークフローが案内されるため、測定のためのセットアップに煩わされることなく、設計やデバッグに集中できます。



ワークフロー・ベースのユーザ・インタフェースにしたがい、テストのセットアップから実行まで簡単に設定

メニューから、仕様にしたがってグループ（HS、LP、HS-LP）を選択するだけでテストを実行できます。



テスト選択メニューからテスト・グループまたはテスト項目を選択

ボタンを押すだけで、選択されたテストの回路図が表示されます。設定ミスを防ぐための接続図も表示されます。

パス／フェイル・レポート

レポート・タブには、パス／フェイルのステータス、テスト・マージン、DUTのレーンごとのテスト結果のイメージとともに完全なテスト結果が表示されます。


詳細なレポートによるテスト結果

TDP7700シリーズTriModeプローブ（MIPI D-PHY TX測定用）

MIPI D-PHYアプリケーションには、ハイスピード・モードとロー・パワー・モード があり、異なる信号源を測定しなければならないため、特有のプロービング要件があります。ハイスピード・モードでは、D-PHY信号は差動信号、終端モードで動作します。ローパワー・モードでは、D-PHY信号はシングルエンド信号、非終端モードで動作します。そのため、MIPI D-PHYには、主に次の2つのプロービング要件があります。

信号負荷を最小にするためにハイ・インピーダンスでなければならない 差動モードとシングルエンド・モードの両方に対応する必要がある 当社のTDP7700シリーズTriModeプローブは、これらの問題点を解決できるように設計されています。6シリーズMSOでTDP7700シリーズを使用すると、プローブとチップの信号経路が完全にAC校正され、リアルタイム・オシロスコープに必要な高度な信号忠実度が実現されます。SiGe技術と呼ばれる革新的な新しいプローブ設計の採用により、現在、将来において必要な帯域幅性能と信号品質を提供します。



ハイ・インピーダンス入力とTriMode機能を持つTDP7708型プローブを使用することで、少ない本数のプローブでD-PHY測定が可能

TriModeプロービングは、一度セットアップするだけで、差動、シングルエンド、コモンモードの測定を確実に実施できるため、作業効率も改善します。この機能により、プローブの接続ポイントをつなぎかえることなく、オシロスコープ上で差動測定、シングルエンド測定、コモンモード測定を切り替えながら作業を進めることができます。

TDP7700シリーズは、プローブ先端からわずか数ミリの位置に入力バッファを配置し、ソルダダウン・プローブ・チップを採用しています。これにより、MIPI D-PHY回路の測定における優れた操作性を可能にしました。

TDP7700シリーズ・プローブには、次のような特長があります。

チップ上のアクティブ・バッファ増幅器（プローブ入力からバッファまではわずか3.2mmの距離）8GHzまでの優れたステップ応答と低インサーション・ロス 低DUT負荷（DC：100kΩ、AC：0.4pF）高いCMRR低ノイズ 仕様D-PHYベース仕様 Revision 1.2  D-PHY適合性仕様 Revision 1.2  測定項目 ハイスピード・モードとローパワー・モードの両方（ULPSとBTAを含む） Group 1 testsData lane LP-TX signaling 1.1.1  Data lane LP-TX Thevenin output high level voltage (VOH) 1.1.2  Data lane LP-TX Thevenin output low level voltage (VOL) 1.1.3  Data lane rise time 1.1.4  Data lane fall time 1.1.5  Data lane LP-TX slew rate versus CLOAD (δV/δtSR) 1.1.6  Data lane LP-TX pulse width of exclusive-OR clock (TLP-PULSE-TX) 1.1.7  Data lane LP-TX period of exclusive-OR clock (TLP-PER-TX) Group 2 testsClock lane LP-TX signaling1.2.1  Clock lane LP-TX Thevenin output high level voltage (VOH) 1.2.2  Clock lane LP-TX Thevenin output low level voltage (VOL) 1.2.3  Clock lane rise time 1.2.4  Clock lane fall time 1.2.5  Clock lane LP-TX slew rate vs. CLOAD (δV/δtSR) Group 3 tests Data lane HS-TX signaling1.3.1  Data lane HS entry: data lane TLPX value 1.3.2  Data lane HS entry: THS-PREPARE value 1.3.3  Data lane HS entry: THS-PREPARE + THS-ZERO value 1.3.4  Data lane HS-TX differential voltages (VOD(0), VOD(1)) 1.3.5  Data lane HS-TX differential voltage mismatch (ΔVOD) 1.3.6  Data lane HS-TX single ended output high voltages (VOHHS(DP), VOHHS(DN)) 1.3.7  Data lane HS-TX common-mode voltages (VCMTX(1), VCMTX(0)) 1.3.8  Data lane HS-TX common-mode voltage mismatch (ΔVCMTX(1,0)) 1.3.9  Data lane HS-TX dynamic common-level variations between 50-450 MHz (ΔVCMTX(LF)) 1.3.10  Data lane HS-TX dynamic common-level variations above 450 MHz (ΔVCMTX(HF)) 1.3.11  Data lane HS-TX 20%-80% rise time (tR) 1.3.12  Data lane HS-TX 80%-20% fall time (tR) 1.3.13  Data lane HS exit: THS-TRAIL value 1.3.14  Data lane HS exit: 30%-80% Post-EoT rise time (TREOT) value 1.3.15  Data lane HS exit: TEOT value 1.3.16  Data lane HS exit: THS-EXIT value Group 4 testsClock lane HS-TX signaling 1.4.1  Clock lane HS entry: TLPX value 1.4.2  Clock lane HS entry: TCLK-PREPARE value 1.4.3  Clock lane HS entry: TCLK-PREPARE + TZERO value 1.4.4  Clock lane HS-TX differential voltages (VOD(0), VOD(1)) 1.4.5  Clock lane HS-TX differential voltage mismatch (ΔVOD) 1.4.6  Clock lane HS-TX single ended output high voltages (VOHHS(DP), VOHHS(DN)) 1.4.7  Clock lane HS-TX common-mode voltages (VCMTX(1), VCMTX(0)) 1.4.8  Clock lane HS-TX common-mode voltage mismatch (ΔVCMTX(1,0)) 1.4.9  Clock lane HS-TX dynamic common-level variations between 50-450 MHz (ΔVCMTX(LF)) 1.4.10  Clock lane HS-TX dynamic common-level variations above 450 MHz (ΔVCMTX(HF)) 1.4.11  Clock lane HS-TX 20%-80% rise time (tR) 1.4.12  Clock lane HS-TX 80%-20% fall time (tR) 1.4.13  Clock lane HS exit: TCLK-TRAIL value 1.4.14  Clock lane HS exit: 30%-80% Post-EoT rise time (TREOT) value 1.4.15  Clock lane HS exit: TEOT value 1.4.16  Clock lane HS exit: THS-EXIT value 1.4.17  Clock lane HS clock instantaneous (UIINST) 1.4.18Clock Lane HS Clock Delta UI (ΔUI) Group 5 testsHS-TX Clock-to-Data lane timing 1.5.1  HS entry TCLK-PREValue 1.5.2  HS exit TCLK-POST value 1.5.3  HS clock rising edge alignment to first payload bit 1.5.4  Data-to-Clock skew (TSKEW (TX)) 1.5.5Initial HS Skew Calibration Burst (TSKEWCAL-SYNC, TSKEWCAL) 1.5.6Periodic HS Skew Calibration Burst (TSKEWCAL-SYNC, TSKEWCAL) Group 6 testsLP-TX INIT, ULPS and BTA requirements 1.6.1  INIT: LP-TX initialization period (TINIT, MASTER) 1.6.2  ULPS entry: verification of clock lane LP-TX ULPS support 1.6.3  ULPS exit: transmitted TWAKEUP interval 1.6.4  BTA: TX-Side TTA-GO interval value 1.6.5  BTA: RX-Side TTA-SURE interval value 1.6.6  BTA: RX-Side TTA-GET interval value プロービング ・コンフィグレーション シングルエンドと差動による取込み トリガ クロック連続モードでのクロック・レーン・テストはエッジ・トリガ。その他すべてのテスト、その他すべてのモードではパルス幅トリガとトランジション・トリガを選択 ご発注の際は、以下の型名をご使用ください。必須ハードウェアオシロスコープ 4GHz以上の周波数帯域を持つ6シリーズMSOオシロスコープ（Opt. 6-BW-4000） 対応計測器 MSO64型 必須オプション 6-WIN（Microsoft Windows 10オペレーティング・システムがインストールされたリムーバブルSSD） 必須ソフトウェアアプリケーション Opt. ライセンスの種類 MIPI D-PHY 1.2の自動コンプライアンス・ソリューション 6-CMDPHY 新規購入ライセンス SUP6-CMDPHY アップグレード・ライセンス SUP6-CMDPHY-FL フローティング・ライセンス 推奨プローブプローブ 内容 TDP7708（TriModeプローブ） 4本（Dp、Dn、Cp、Cnの接続用に推奨） P77STFLXA（ソルダ・チップ。TekFlexコネクタ対応） 2組 推奨テスト・フィクスチャテスト・フィクスチャ ベンダ TMPC−CTB D-PHY終端ボード（Moving Pixel Company社製） テクトロニクスが販売 1

1詳細については、お近くの当社代理店までお問合せください。

当社はSRI Quality System RegistrarによりISO 9001およびISO 14001に登録されています。 製品は、IEEE規格488.1-1987、RS-232-Cおよび当社標準コード＆フォーマットに適合しています。 評価対象の製品領域： 電子テストおよび測定器の計画、設計／開発および製造。



61Z-61487-2

テクトロニクスについて

私たちは、計測器のトップ企業として、さらなる機能と性能を求めて、飽くなき挑戦を続けています。テクトロニクスは、複雑さという障壁を打ち破り、グローバルな技術革新を加速化する画期的なテスト／測定ソリューションを設計し、製造しています。

当社の詳細を見る

会社

会社情報 採用情報 ニュースルーム イベント EA Elektro-Automatik

ヘルプ／ラーニング

お問い合わせ テクニカルサポートへの連絡 計測技術ラーニング・センター 所有者リソース ブログ

パートナー

販売パートナ検索

SNS一覧

その他のリンク

© 2024 TEKTRONIX, INC.

Sitemap Privacy 利用規約 契約条項 Call us at Feedback

智能索引记录