Design-Driven Testing: Optimizing Power Systems with Real Measurements | Tektronix

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Tektronix Design-Driven Testing Optimizing Power Systems with Real Measurements Migrating from Silicon to Silicon Carbide in Power Designs 2026-02-24 Ready to make the switch from Silicon to Silicon Carbide? Join experts from Tektronix, Wolfspeed, and PE Systems for a 3-part webinar series featuring real-world demos, practical test strategies, and advanced tools for SiC power design and validation.

Webinar 2: Design-Driven Testing: Optimizing Power Systems with Real Measurements In this second session, we move beyond signal capture to device-level testing and interpretation. Learn how to characterize SiC MOSFET dynamic performance using Double Pulse Testing (DPT) aligned with JEDEC and other industry standards. We’ll talk about evaluation kits and test automation software, and how they can accelerate the design process. We’ll cover best practices, how to identify measurement artifacts, and testing over temperature. We’ll show how parameters such as Eon, Eoff and overshoot can be used to guide device, gate driver and gate-resistor selection.

Watch other webinars in the series:

Webinar 1: Fundamentals of Power Measurement in SiC Systems

Webinar 3: Signals to Significance: Dynamic Device Characterization and Optimization

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De-Embedding PCB Cable and Fixture Effects for Accurate Eye Diagram Measurements with an Oscilloscope 期間 6m 18s

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