温馨提示：本站仅提供公开网络链接索引服务，不存储、不篡改任何第三方内容，所有内容版权归原作者所有
AI智能索引来源：http://www.tek.com/vn/documents/application-note/simplifying-fet-testing-series-2600b-system-sourcemeter-smu-instruments
点击访问原文链接

Simplifying FET Testing with Series 2600B System SourceMeter SMU Instruments | Tektronix

进入原网站 导航首页
Simplifying FET Testing with Series 2600B System SourceMeter SMU Instruments | Tektronix Toggle Search Current Language × Vietnamese (Vietnam)

Select a language:

English FRANÇAIS DEUTSCH Việt Nam 简体中文 日本語 한국어 繁體中文 Toggle Menu x To find technical documents by model, try our Product Support Center Show all results → Sản phẩm Máy hiện sóng và que đo Máy hiện sóng Bộ số hóa tốc độ cao Que đo và Phụ kiện Phần mềm Phần mềm thiết bị để bàn Phân tích dữ liệu Tự động hóa kiểm tra Máy phân tích Máy phân tích phổ Máy phân tích thông số Máy phân tích điều biến quang học Máy đếm tần số Máy tạo tín hiệu Máy tạo chức năng tùy ý Máy tạo dạng sóng tùy ý Nguồn và Nguồn cung Thiết bị đo nguồn Bộ cấp nguồn DC Tải điện DC Bộ cấp nguồn DC hai chiều Sản phẩm điện hóa Máy đo Đồng hồ vạn năng kỹ thuật số Thu thập dữ liệu và chuyển mạch Dụng cụ mức thấp/nhạy cảm và Dụng cụ chuyên môn Sản phẩm bổ sung Giải pháp tham khảo Hệ thống kiểm tra chất bán dẫn Thành phần và Phụ kiện Thiết bị kiểm tra tân trang Product Selectors & Calculators ⇨ Sản phẩm của Keithley Sản phẩm EA Elektro-Automatik Xem tất cả sản phẩm Khuyến mãi Giải pháp Lĩnh vực hoạt động Nghiên cứu nâng cao Hàng không vũ trụ và Quốc phòng Ô tô Phòng thí nghiệm đào tạo và giảng dạy Hệ thống và thiết bị y tế Thiết bị bán dẫn công suất Năng lượng tái tạo Thiết kế và Sản xuất chất bán dẫn Ứng dụng Mô tả đặc điểm ảnh và cảm biến 3D Kiểm tra EMI/EMC Giao tiếp nối tiếp tốc độ cao Kỹ thuật và khoa học vật liệu Chính phủ và Quân đội power efficiency Đo kiểm vô tuyến Tự động hóa đo kiểm Giao tiếp có dây All Solutions Dịch vụ Dịch vụ hiệu chỉnh Hiệu chỉnh có nhà máy chứng nhận Hiệu chỉnh tuân thủ đa thương hiệu Chất lượng và Cấp phép Khả năng hiệu chỉnh Vị trí Cấp độ dịch vụ Theo dõi trạng thái hiệu chỉnh tại nhà máy Yêu cầu dịch vụ đa thương hiệu ⇨ Yêu cầu dịch vụ tại nhà máy ⇨ Dịch vụ quản lý tài sản CalWeb Dịch vụ được quản lý Dịch vụ sửa chữa Yêu cầu dịch vụ sửa chữa Theo dõi trạng thái sửa chữa Bộ phận Kiểm tra trạng thái bảo hành Dịch vụ EA Elektro-Automatik Giải pháp thành phần Tektronix Gói dịch vụ nhà máy Tất cả dịch vụ Hỗ trợ Các sản phẩm Bảng dữ liệu và hướng dẫn sử dụng Trạng thái đơn hàng Đăng ký sản phẩm Tình trạng bảo hành Parts Phần mềm Tải phần mềm Giấy phép sản phẩm Tài nguyên Hỗ trợ EA Elektro-Automatik FAQ Trung tâm hỗ trợ Hỗ trợ kỹ thuật Làm thế nào và ở đâu để mua Liên hệ với chúng tôi Nhà phân phối Chương trình GSA Khuyến mãi Sự tuân thủ Mã xuất khẩu Giới thiệu về chúng tôi Tái chế sản phẩm (Chỉ áp dụng cho Châu Âu) Bảo mật sản phẩm Đảm bảo chất lượng Thu hồi an toàn Khả năng truy xuất nguồn gốc Công ty About Us Blogs Câu chuyện của khách hàng Sự kiện Phòng tin tức Cổng thông tin đối tác Cộng đồng người dùng TekTalk Nhận báo giá NHẬN BÁO GIÁ SẢN PHẨMNHẬN BÁO GIÁ DỊCH VỤLIÊN HỆ BÁN HÀNG 400-820-5835 Toggle Search x To find technical documents by model, try our Product Support Center Show all results → Đăng nhập Current Language × Vietnamese (Vietnam)

Select a language:

English FRANÇAIS DEUTSCH Việt Nam 简体中文 日本語 한국어 繁體中文 Contact us

Live Chat with Tek representatives. Available 6:00 AM - 4:30 PM

Call

Call us at

Available 6:00 AM – 5:00 PM (PST) Business Days

Contact US Contact us with comments, questions, or feedback Download

Download Manuals, Datasheets, Software and more:

DOWNLOAD TYPE Show All Products Datasheet Manual Software Marketing Document Faq Video MODEL or KEYWORD Feedback

Have feedback? We'd love to hear your thoughts.

Whether positive or negative, your feedback helps us continually improve the Tek.com experience. Let us know if you're having trouble or if we're doing an outstanding job.

Tell us what you think

Tektronix Simplifying FET Testing with Series 2600B System SourceMeter SMU Instruments Simplifying FET Testing with Series 2600B System SourceMeter SMU Instruments Please Login/register to save starred items to Your Library. Login × Download File
Introduction Field effect transistors (FETs) are important semiconductor devices with many applications because they are fundamental components of many devices and electronic instruments. Some of the countless applications for FETs include their use as amplifiers, memory devices, switches,logic devices, and sensors. The most commonly used FET is the MOSFET, which is the basis for digital integrated circuits.

Characterizing FETs’ current-voltage (I-V) parameters is crucial to ensuring they work properly in their intended applications and meet specifications. Some of these I-V tests may include gate leakage, breakdown voltage, threshold voltage, transfer characteristics, drain current, on-resistance, etc. FET testing often involves the use of several instruments, including a sensitive ammeter, multiple voltage sources, and a voltmeter. Programming and synchronizing multiple instruments, however, can be tedious and time consuming. The use of a turnkey semiconductor characterization system is one alternative approach that solves the integration problem and offers other important benefits, but systems of this type typically cost tens of thousands of dollars. A third approach involves using Source Measurement Units (SMUs) to perform parameter testing on FETs and other semiconductor devices. An SMU is an instrument that can quickly and accurately source and measure both current and voltage. The number of SMUs required in the test usually depends on the number of FET terminals that must be biased and/or measured.

This application note explains how to simplify I-V measurements on FETs using a Series 2600B System SourceMeter SMU Instrument with the TSP®Express embedded software tool. The Series 2600B family of oneand two-channel SMUs offers a range of instruments ideal for electrical characterization of FETs that can source and measure over a wide range of voltage and current. These SMUs have current resolution to 0.1fA and can be current limited to prevent damage to the device. The TSP Express software tool simplifies performing common I-V tests on FETs and other semiconductor devices, without programming or installing software. Figure 1 illustrates a typical test setup.

Figure 1. Model 2636B with the TSP Express software tool generating a drain family of curves on a MOSFET Field Effect Transistors The field effect transistor is a majority charge-carrier device in which the current-carrying capability is varied by an applied electric field. The FET has three main terminals: the gate, the drain, and the source. A voltage applied to the gate terminal (VG) controls the current that flows from the source (IS) to the drain (ID) terminals.

The many types of FETs include the MOSFET (metal-oxidesemiconductor), MESFET (metal-semiconductor), JFET (junction), OFET (organic), GNRFET (graphene nano-ribbon),and CNTFET (carbon nanotube). These FETs differ in the design of their channels. Figure 2 illustrates the MOSFET,CNTFET, and JFET.

Figure 2. MOSFET (insulated gate), CNTFET (carbon nanotube channel), and JFET (junction FET) Using a Series 2600B SMU for FET Testing A FET’s I-V characteristics can be used to extract many parameters about the device, to study the effects of fabrication techniques and process variations, and to determine the quality of the contacts.Figure 3 illustrates a DC I-V test configuration for a MOSFET using a two-channel Series 2600B SMU. In this configuration, the Force HI terminal of Channel 1 (SMU CH1) is connected to the gate of the MOSFET and the Force HI terminal Channel 2 (SMU CH2) is connected to the drain. The source terminal of the MOSFET is connected to the Force LO terminals of both SMU channels or to a third SMU if it is necessary to source and measure from all three terminals of the MOSFET.

Figure 3. MOSFET test configuration using two SMU channels Once the device is set up and connected to the SMU, the control software must be configured to automate the measurements, such as with the TSP Express software tool embedded into Series 2600B SMUs. As shown in Figure 4, it’s simple to connect the instrument to any computer with the supplied Ethernet cable. Entering the IP address of the SMU into the URL line of any web browser will open the instrument’s web page. From that page, the user can launch TSP Express and configure the desired test using the project wizard. These tests, or projects, can be saved and recalled for future use.

Figure 4. Connecting a Series 2600B SMU to a computer A common I-V test performed on a MOSFET is the drain family of curves (VDS-ID). With this test, SMU CH1 steps the gate voltage (VG) while SMU CH2 sweeps the drain voltage (VD) and measures the resulting drain current (ID). Once the two SMUs are configured to perform the test, the data can be generated and plotted on the screen in real time. Figure 5 shows a screen capture of a MOSFET drain family of curves created by using the two-channel Model 2636B SMU with the TSP Express software. This I-V data can be exported directly to a .csv file with a single button click, then imported into a spreadsheet for further analysis.

Figure 5. Screen capture of MOSFET drain family of curves measured by the two-channel Model 2636B using TSP Express software The data in the software can also be displayed in a table view (Figure 6). For each SMU channel, the current, voltage, and time appear in the table. This data can also be saved to a file.

Figure 6. MOSFET I-V curve data displayed in a table in TSP Express Without changing connections to the device, the TSP Express software allows users to perform other common I-V FET tests such as the Drain Current (ID) as a function of Gate Voltage (VG). For this test, the gate voltage is swept and the resulting drain current is measured at a constant drain voltage. Figure 7 shows the results of an ID-VG curve at a constant drain voltage. However, in this case, the generated data was exported to a file and plotted on a semi-log graph. This test can be easily reconfigured to step the drain voltage as the gate voltage is swept.

Figure 7. Drain current as a function of the gate voltage of a MOSFET generated by the Model 2636B and the TSP Express software The ID-VG data shows the many decades of drain current that were measured by the Model 2636B, from 1E-12 to 1E-2 amps. The Model 2636B is a low current SMU with 0.1fA resolution, so it’s suitable for other low current FET test applications such as gate leakage current measurements. When measuring low current, it is important to employ low level measurement techniques, such as shielding and guarding, to prevent errors. Further information on optimizing low current measurements is available in Keithley’s Low Level Measurements Handbook.

Conclusion Parameter testing of FETs is often performed using multiple Source Measurement Units (SMUs). To simplify I-V characterization of FETs, Series 2600B SMUs with embedded TSP Express software allow generating I-V sweeps quickly and easily. With their wide dynamic range of current and voltage sourcing and measuring, Series 2600B SMUs are ideal tools for semiconductor device characterization.

Find more valuable resources at TEK.COM

Copyright © Tektronix. All rights reserved. Tektronix products are covered by U.S. and foreign patents, issued and pending. Information in this publication supersedes that in all previously published material. Specification and price change privileges reserved. TEKTRONIX and TEK are registered trademarks of Tektronix, Inc. All other trade names referenced are the service marks, trademarks or registered trademarks of their respective companies.

091616 1KW-57501-1

Share Related Product Information 2600B Series SMU

Giới thiệu về Tektronix

Chúng tôi là công ty chuyên về đo lường cam kết mang lại hiệu suất và định hướng bởi các khả năng. Tektronix thiết kế và sản xuất các giải pháp kiểm tra và đo lường để phá vỡ tính phức tạp và tăng tốc đổi mới toàn cầu.

TÌM HIỂU THÊM VỀ CHÚNG TÔI

Công ty

Giới thiệu về chúng tôi Sự nghiệp Tin tức Sự kiện EA Elektro-Automatik

Trợ giúp và Đào tạo

Liên hệ với chúng tôi Liên hệ bộ phận Hỗ trợ kỹ thuật Trung tâm đào tạo Tài nguyên chủ sở hữu Blog

Đối tác

Tìm một đối tác

Kết nối với chúng tôi

Liên kết bổ sung

© 2026 TEKTRONIX, INC.

Sitemap Privacy Điều khoản sử dụng Điều khoản và điều kiện Call us at Feedback

智能索引记录