温馨提示：本站仅提供公开网络链接索引服务，不存储、不篡改任何第三方内容，所有内容版权归原作者所有
AI智能索引来源：http://www.tek.com/vn/solutions/application/power-efficiency/automated-parametric-test
点击访问原文链接

Fully-automated High Voltage wafer-level testing | Tektronix

进入原网站 导航首页
Fully-automated High Voltage wafer-level testing | Tektronix Toggle Search Current Language × Vietnamese (Vietnam)

Select a language:

English FRANÇAIS DEUTSCH Việt Nam 简体中文 日本語 한국어 繁體中文 Toggle Menu x To find technical documents by model, try our Product Support Center Show all results → Sản phẩm Máy hiện sóng và que đo Máy hiện sóng Bộ số hóa tốc độ cao Que đo và Phụ kiện Phần mềm Phần mềm thiết bị để bàn Phân tích dữ liệu Tự động hóa kiểm tra Máy phân tích Máy phân tích phổ Máy phân tích thông số Máy phân tích điều biến quang học Máy đếm tần số Máy tạo tín hiệu Máy tạo chức năng tùy ý Máy tạo dạng sóng tùy ý Nguồn và Nguồn cung Thiết bị đo nguồn Bộ cấp nguồn DC Tải điện DC Bộ cấp nguồn DC hai chiều Sản phẩm điện hóa Máy đo Đồng hồ vạn năng kỹ thuật số Thu thập dữ liệu và chuyển mạch Dụng cụ mức thấp/nhạy cảm và Dụng cụ chuyên môn Sản phẩm bổ sung Giải pháp tham khảo Hệ thống kiểm tra chất bán dẫn Thành phần và Phụ kiện Thiết bị kiểm tra tân trang Product Selectors & Calculators ⇨ Sản phẩm của Keithley Sản phẩm EA Elektro-Automatik Xem tất cả sản phẩm Khuyến mãi Giải pháp Lĩnh vực hoạt động Nghiên cứu nâng cao Hàng không vũ trụ và Quốc phòng Ô tô Phòng thí nghiệm đào tạo và giảng dạy Hệ thống và thiết bị y tế Thiết bị bán dẫn công suất Năng lượng tái tạo Thiết kế và Sản xuất chất bán dẫn Ứng dụng Mô tả đặc điểm ảnh và cảm biến 3D Kiểm tra EMI/EMC Giao tiếp nối tiếp tốc độ cao Kỹ thuật và khoa học vật liệu Chính phủ và Quân đội power efficiency Đo kiểm vô tuyến Tự động hóa đo kiểm Giao tiếp có dây All Solutions Dịch vụ Dịch vụ hiệu chỉnh Hiệu chỉnh có nhà máy chứng nhận Hiệu chỉnh tuân thủ đa thương hiệu Chất lượng và Cấp phép Khả năng hiệu chỉnh Vị trí Cấp độ dịch vụ Theo dõi trạng thái hiệu chỉnh tại nhà máy Yêu cầu dịch vụ đa thương hiệu ⇨ Yêu cầu dịch vụ tại nhà máy ⇨ Dịch vụ quản lý tài sản CalWeb Dịch vụ được quản lý Dịch vụ sửa chữa Yêu cầu dịch vụ sửa chữa Theo dõi trạng thái sửa chữa Bộ phận Kiểm tra trạng thái bảo hành Dịch vụ EA Elektro-Automatik Giải pháp thành phần Tektronix Gói dịch vụ nhà máy Tất cả dịch vụ Hỗ trợ Các sản phẩm Bảng dữ liệu và hướng dẫn sử dụng Trạng thái đơn hàng Đăng ký sản phẩm Tình trạng bảo hành Parts Phần mềm Tải phần mềm Giấy phép sản phẩm Tài nguyên Hỗ trợ EA Elektro-Automatik FAQ Trung tâm hỗ trợ Hỗ trợ kỹ thuật Làm thế nào và ở đâu để mua Liên hệ với chúng tôi Nhà phân phối Chương trình GSA Khuyến mãi Sự tuân thủ Mã xuất khẩu Giới thiệu về chúng tôi Tái chế sản phẩm (Chỉ áp dụng cho Châu Âu) Bảo mật sản phẩm Đảm bảo chất lượng Thu hồi an toàn Khả năng truy xuất nguồn gốc Công ty About Us Blogs Câu chuyện của khách hàng Sự kiện Phòng tin tức Cổng thông tin đối tác Cộng đồng người dùng TekTalk Nhận báo giá NHẬN BÁO GIÁ SẢN PHẨMNHẬN BÁO GIÁ DỊCH VỤLIÊN HỆ BÁN HÀNG 400-820-5835 Toggle Search x To find technical documents by model, try our Product Support Center Show all results → Đăng nhập Current Language × Vietnamese (Vietnam)

Select a language:

English FRANÇAIS DEUTSCH Việt Nam 简体中文 日本語 한국어 繁體中文 Contact us

Live Chat with Tek representatives. Available 6:00 AM - 4:30 PM

Call

Call us at

Available 6:00 AM – 5:00 PM (PST) Business Days

Contact US Contact us with comments, questions, or feedback Download

Download Manuals, Datasheets, Software and more:

DOWNLOAD TYPE Show All Products Datasheet Manual Software Marketing Document Faq Video MODEL or KEYWORD Feedback

Have feedback? We'd love to hear your thoughts.

Whether positive or negative, your feedback helps us continually improve the Tek.com experience. Let us know if you're having trouble or if we're doing an outstanding job.

Tell us what you think

Tektronix Solutions Hiệu suất điện Fully-automated High Voltage wafer-level testing Fully-automated High Voltage wafer-level testing Fully-automated HV wafer-level testing Increase throughput, reduce cost of test Lower cost of test, higher throughput Traditional test systems used for WLR, PCM, and Die-Sort do not have the measurement dynamic range or resolution to meet the new efficiency requirements (higher voltage, lower leakage current, lower on-resistance), or they require time-consuming manual reconfiguration to switch between low- and high-voltage tests. To meet your fab’s productivity goals, you can no longer afford to manually switch between two separate test systems for low voltage and high voltage semiconductor testing. Only Keithley can perform fully automatic wafer-level tests up to 3kV in a single probe touchdown.

Read more about trends in power efficiency

Learn how to: Move from high voltage to low voltage without changing test setup Measure capacitance without manual reconfiguration Fast automation Move from high voltage to low voltage without changing test set up. Perform all high- and low-voltage tests in a single pass without changing equipment or test setup. Get full 3kV sourcing capability combined with sub-pA measurement resolution, which eliminates the need to re-configure the test setup or use two separate test systems when moving from high voltage to low voltage breakdown tests. Minimize connectivity issues due to manual cabling and probing. Reduce false failures by ensuring high quality measurements. Safely rely on test results to adjust manufacturing process parameters to maximize yields.

High Voltage Wafer Testing in a Production Environment

More on the S540 Parametric Test System

In this breakdown test, voltage is ramped up to 1800 V at two different ramp rates, 20 ms and 100 ms per step. High ramp rate (slow delay time) increased the measured current from 100 pA to 1 nA. At the higher ramp rate, most of the current is the displacement current (~ 1 nA.)

Measure capacitance without manual reconfiguration Automate all Capacitance tests, including complex 3-terminal measurements. Fully automate 2- or 3-terminal transistor capacitance measurements to quickly evaluate switching characteristics such as speed, energy, and charge with Keithley’s high voltage switching matrix.

High Voltage Wafer Testing in a Production Environment

More on the S540 Parametric Test System

Perform transistor capacitance measurements
such as Ciss, Coss, and Crss up to 3 kV without manual reconfiguration of test pins

Fast automation

Sensitivity vs. typical execution time for connect-force-measure for different current levels.

Minimize test times, maximize test throughput and reduce cost of test with Keithley’s Test Script Processing (TSP) technology and virtual backplane (TSP-Link) that enables high-speed triggering, timing, and synchronization between all elements of the system.

Achieving Maximum Throughput with Keithley S530 Parametric Test Systems

More on the S530 Parametric Test System

Featured Content High Voltage Wafer Testing in a Production Environment Application note This application note explores several measurement techniques and approaches that enable automated HV wafer level characterization on multiple pins without sacrificing low voltage performance or throughput, as well as share results and experiences in the emerging field of HV wafer-level testing.

DOWNLOAD NOW Achieving Maximum Parametric Test Throughput Application note This application note addresses recent developments in system test speed optimization and offers general guidelines for test speed optimization at both the system and specific test algorithm level.

DOWNLOAD NOW Complete, single-pass parametric testing up to 3 kV S540

The 540 Parametric Test System is a fully-automated, 48 pin parametric test system for wafer-level testing of power semiconductor devices and structures up to 3kV.

Optimized for use with the latest compound power semiconductor materials including silicon carbide (SiC) and gallium nitride (GaN) Fully integrated to perform all high voltage, low voltage, and capacitance tests in a single probe touch-down. LEARN MORE

Test With More Accuracy and Fidelity S530

S530 Parametric Test Systems are designed for production and lab environments that must handle a broad range of devices and technologies, offering industry-leading test plan flexibility, automation, probe station integration, and test data management capabilities.

Readily adaptable to new devices and test requirements Fast, flexible, interactive test plan development Compatible with popular fully automatic probe stations Options for 1kV, C-V, pulse generation, frequency measurements, and low-voltage measurements LEARN MORE

Facing challenges in other power applications? Characterization of Power Semiconductor Devices Characterization and Troubleshooting of Power Conversion Designs Maximizing Battery Life of IoT Devices Technical Documents Videos Title MOSFET Testing System Flyer Learn more about integrated measurement systems for comprehensive characterization of power MOSFETs and other devices. Keithley Parametric Curve Tracer (PCT) systems offer a complete solution for high … Making Microsecond Pulse and AC Measurements with the S530 Parametric Test System by Integrating 4200A-SCS Parameter Analyzer Applications This application note describes how to generate microsecond pulsed I-V sweeps and tests, as well as make AC impedance measurements, with the S530 Parametric Test System by calling built-in user … Filter By All Video Multimedia Case Study Product News Product Demo Industry Comparison Product Features Testimonial How-To Apply

Giới thiệu về Tektronix

Chúng tôi là công ty chuyên về đo lường cam kết mang lại hiệu suất và định hướng bởi các khả năng. Tektronix thiết kế và sản xuất các giải pháp kiểm tra và đo lường để phá vỡ tính phức tạp và tăng tốc đổi mới toàn cầu.

TÌM HIỂU THÊM VỀ CHÚNG TÔI

Công ty

Giới thiệu về chúng tôi Sự nghiệp Tin tức Sự kiện EA Elektro-Automatik

Trợ giúp và Đào tạo

Liên hệ với chúng tôi Liên hệ bộ phận Hỗ trợ kỹ thuật Trung tâm đào tạo Tài nguyên chủ sở hữu Blog

Đối tác

Tìm một đối tác

Kết nối với chúng tôi

Liên kết bổ sung

© 2026 TEKTRONIX, INC.

Sitemap Privacy Điều khoản sử dụng Điều khoản và điều kiện Call us at Feedback

智能索引记录